WITec掃描近場光學顯微鏡 alpha300S

WITec alpha 300S是一(yi)種純近(jin)場光學(xue)顯微鏡，在很多樣品(pin)上都(dou)可獲得*的超(chao)高(gao)分辨率，并且擁有透(tou)射(she)與(yu)反(fan)射(she)式兩種模(mo)式。

該近場光學顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發光源。 alpha300S 系統采用軟件可控的快速自動進針及調節等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。

由于近場光學信號極其微弱，alpha300 S 近場光學顯微鏡配備高靈敏單光子計數的光電倍增管或雪崩二極管，并同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是，UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統兼容，實現近場光譜與成像測量。

WITec掃描近場光學顯微鏡 alpha300S

WITec alpha 300S是一種純近(jin)場光學顯微鏡，在很多樣品上(shang)都可(ke)獲得*的(de)超高分辨率(lv)，并且(qie)擁有透射與反(fan)射式兩(liang)種模(mo)式。

關鍵特性：

• 突破衍射極限的空間光學(xue)分辨率（橫向約 60 nm)

• *的 SNOM 探(tan)針技術

• 在空氣(qi)與液體(ti)中均可使用(yong)

• 包含(han)多種原子力與光學顯微鏡模式

• 非破壞(huai)性(xing)、無需標記的超(chao)高分辨成像技術，基本(ben)不需要樣品(pin)制備

• 可升級到關聯的共聚(ju)焦拉曼成(cheng)像(xiang)和近場拉曼成(cheng)像(xiang)

• 集成(cheng)三種技術到(dao)一(yi)臺儀器上：共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM