傳感器測量的方法

測(ce)(ce)量(liang)方法是(shi)實現測(ce)(ce)量(liang)過程所(suo)采用(yong)的(de)(de)具體方法，應該根據被測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)性(xing)質、特點和測(ce)(ce)量(liang)任務的(de)(de)要求來(lai)選擇(ze)適(shi)當的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)方法。

1.按照測(ce)量過程的(de)特點分類：可(ke)將(jiang)測(ce)量方法分為直接(jie)測(ce)量和間接(jie)測(ce)量。

（1）直接測量

直(zhi)接(jie)測量(liang)是針對被測量(liang)選用儀表進行測量(liang)，直(zhi)接(jie)獲取被測量(liang)值的過程。

（2）間接測量

用(yong)直接測(ce)量(liang)法得到(dao)與被測(ce)量(liang)有確切函數關(guan)系的一些物(wu)理量(liang)，然后通過計算求得被測(ce)量(liang)值的過程成為間接測(ce)量(liang)。

2.按(an)照檢(jian)測(ce)(ce)時對(dui)偏差(cha)的處理方(fang)式：可(ke)以分為偏差(cha)式測(ce)(ce)量、零位式測(ce)(ce)量和微差(cha)式測(ce)(ce)量。

（1）偏差式測量

用事(shi)先(xian)標定(ding)好的測量儀器進行測量，根(gen)據被(bei)測量引起顯示器的偏移值直接讀取被(bei)測量的值。

（2）零位式測量

將被測量x與某一已知(zhi)標準量s*抵消，使作用到檢(jian)查儀(yi)表上的效應等于零(ling)。

（3）微差式測量

將零位測量(liang)(liang)和偏(pian)差(cha)測量(liang)(liang)結合起來(lai)，把被(bei)測量(liang)(liang)的(de)大部(bu)分抵消，選用靈敏度較高(gao)的(de)儀表測量(liang)(liang)剩余部(bu)分的(de)數值，被(bei)測量(liang)(liang)便(bian)等于標(biao)準量(liang)(liang)和儀表偏(pian)差(cha)值之和。

3.根據傳(chuan)感器是否(fou)與被測量對象直接(jie)接(jie)觸：可分為(wei)接(jie)觸式(shi)測量和(he)非接(jie)觸式(shi)測量。

（1）接觸式測量

檢測(ce)儀表(biao)的(de)傳感器與被測(ce)對象直接(jie)接(jie)觸(chu)，承受(shou)被測(ce)參數的(de)作用，感受(shou)其變(bian)化(hua)，從(cong)而獲得信號，并測(ce)量其信號大小的(de)方法，稱(cheng)接(jie)觸(chu)式測(ce)量。

（2）非接觸式測量

檢測(ce)(ce)儀表的傳感器不與被測(ce)(ce)對象直接(jie)接(jie)觸，而是間接(jie)承受(shou)被測(ce)(ce)參數的作用，感受(shou)其變(bian)化，從而獲(huo)得信號(hao)，以(yi)達到測(ce)(ce)量目的的方法，稱非接(jie)觸式(shi)測(ce)(ce)量。